WANG Suling, GUO Nan, ZHAO Qingfeng, LIU Yaning. Frequency characterizations of the double-layer and dual band EBG structure[J]. CHINESE JOURNAL OF RADIO SCIENCE, 2014, 29(6): 1183-1188. doi: 10.13443/j.cjors.2013122201
      Citation: WANG Suling, GUO Nan, ZHAO Qingfeng, LIU Yaning. Frequency characterizations of the double-layer and dual band EBG structure[J]. CHINESE JOURNAL OF RADIO SCIENCE, 2014, 29(6): 1183-1188. doi: 10.13443/j.cjors.2013122201

      Frequency characterizations of the double-layer and dual band EBG structure


      • A double-layer electromagnetic band gap (EBG) structure is presented. The expressions of the double-layer EBG structure are derived based on its inductance and capacitance (LC) equivalent circuit proposed. The paper presents the relationship between the resonance frequency and the parameters of the structure by analyzing the characteristic of the double-layer EBG structure with different parameters of each layer based on the simulating research. The results show that the double-layer EBG has two zero-phase points, the lower one is mainly related with its dielectric thickness and patch size and has nothing to do with the upper layer, which is not only related with its own parameters also take the influence of the lower one into account. The simulation results agree well with the theoretical analysis,which provides specific guidance in the EBG design and application.

      • loading

      Catalog

        /

        DownLoad:  Full-Size Img  PowerPoint
        Return
        Return